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ZETA電位分析儀的操作流程與注意事項
ZETA電位分析儀的操作流程與注意事項如下:操作流程:樣品準備:選擇適當的樣品進行測試,并根據需要將其稀釋到適當的濃度。確保樣品溶液均勻混合,并盡量避免產生氣泡或顆粒物。儀器設置:按照Zeta電位分析儀的說明書,正確設置儀器參數。這包括電解池的尺寸、電極類型、溫度和測量范圍等。確保所有的設置都與實際情況相符。校準儀器:在開始實際測試之前,應該進行儀器的校準。......
納米均質機高效、快速、均勻地將一個相或多個相(液體、固體、氣體)進入到另一互不相溶的連續(xù)相(通常液體)的過程。而在通常情況下各個相是互不相溶的。當外部能量輸入時,兩種物料重組成為均一相。由于轉子高速旋轉所產生的高剪切線速度和高頻機械效應帶來的強勁動能,使物料在定、轉子狹窄的間隙中受到強烈的機械及液力剪切、離心擠壓、液層......
分散乳化機為實驗室批量生產而設計,采用爪式咬合、雙和吸料結構,避免了上部物料難以吸入造成的死角和漩渦現象。設備的剪切力更強,從而使生產效率和分散乳化品質得到提高。具有結構簡潔,使用輕便,操作方便,可以手持的特點優(yōu)勢。助您輕松完成高品質的分散、乳化、均質實驗工作。分散乳化機原理:啟動設備,通過馬達動力帶動下,工作頭進行高......
激光粒度儀的測量原理要求在測試過程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握,因此在實際的粒度測試中,通過調整遮光比的數值來盡量保證顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于0.5%),遮光比過大......
納米激光粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響,只要將待測樣品均勻地展現于激光束中,即可獲得準確的測試結果。納米激光粒度儀的的結構優(yōu)劣:1、掃描速度掃描速度快可提高數據準確性......
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