粒度分析儀在測(cè)量中應(yīng)該注意哪些呢：
 

　　不同粒度分析儀技術(shù)的局限性：不同粒度分析技術(shù)都受其測(cè)量原理限制.如光衍射法不能測(cè)量小于光源自然線寬的顆粒;沉降法則既受制于大尺寸端亂流的影響，又受小尺寸端擴(kuò)散(布朗運(yùn)動(dòng))的限制。一些測(cè)量?jī)x器也會(huì)因制作和操作規(guī)程帶來(lái)一定限制。有時(shí)測(cè)量技術(shù)還對(duì)測(cè)量樣品的準(zhǔn)備提出限制，PCS測(cè)量必須使顆粒懸浮，電鏡制樣要求優(yōu)良分散。因此，了解測(cè)量技術(shù)的局限性和嚴(yán)格滿足其限制要求.對(duì)獲取正確測(cè)量結(jié)果非常必要。
 

　　測(cè)量基準(zhǔn)：不同粒度分析儀技術(shù)的原理不同，原信息源和計(jì)量目標(biāo)不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強(qiáng)度，要求防止細(xì)顆粒中少數(shù)大顆粒對(duì)信息源的支配.電敏技術(shù)則按顆體積計(jì)數(shù)，因此各方法的基準(zhǔn)不同，彼此不能簡(jiǎn)單歸一同比。所以必須強(qiáng)調(diào)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化因基準(zhǔn)不同會(huì)帶來(lái)明顯的誤差。
 

　　分離顆粒的能力與粒度測(cè)試技術(shù)選擇：依據(jù)對(duì)顆粒的分離能力.可將測(cè)量顆粒的技術(shù)分為單顆粒計(jì)數(shù)、顆粒分級(jí)和整體平均結(jié)果三類。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術(shù)方法；分級(jí)方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測(cè)量顆粒產(chǎn)生信號(hào)的總和計(jì)算粒度分析，即測(cè)量結(jié)果由解析得到，是被測(cè)顆粒整體的平均，因此易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化和在線分析，但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法，實(shí)驗(yàn)室研究多數(shù)情況希望獲得單顆粒技術(shù)與外貌信息，分級(jí)方法的選擇，應(yīng)當(dāng)結(jié)合測(cè)量顆粒性質(zhì)與測(cè)量方式考慮。
 

　　粒度分析儀的信息與技術(shù)指標(biāo)要求：粒度分析儀的信息要求.是指給出結(jié)果的表達(dá)方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對(duì)數(shù)正態(tài)分布、非對(duì)稱分布寬度、多峰分布的各峰相對(duì)量，以及累加頻率的不同名義(如顆粒數(shù)、體積、面積等)表達(dá)。催化劑粒度分析zui有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數(shù)分布。